Onto Innovation Inc. is engaged in the design, development, manufacture, and support of process control tools that perform macro-defect inspection and 2D/3D optical metrology, lithography systems, and process control analytical software, which are used by bare silicon wafer manufacturers, semiconductor wafer fabricators, and advanced packaging manufacturers. Its products include automated metrology systems, integrated metrology systems, silicon wafer all-surface inspection/characterization, macro defect inspection, automated defect classification and pattern analysis, yield analysis, opaque film metrology, probe card test and analysis, advanced packaging lithography, process control software and yield management software. Its products are also used for process control in several other technology markets, including manufacturing of light emitting diodes, vertical-cavity surface-emitting lasers, micro-electromechanical systems, data storage, and industrial and scientific applications.

Onto Innovation, Inc. занимается проектированием, разработкой и производством систем управления процессами. Штаб-квартира компании находится в Уилмингтоне, штат Массачусетс. Его продукты включают в себя автоматизированные системы метрологии, интегрированные системы метрологии, силиконовые вафельные всеповерхностные проверки/характеризации, проверку макродефектов, автоматизированную классификацию дефектов и анализ схемы, анализ урожайности, непрозрачную метрологию пленки, тест и анализ пробной карты, передовую литографию упаковки, программное обеспечение для управления процессом и программное обеспечение для управления выходом. Его продукты также используются для контроля процессов на нескольких других технологических рынках, включая производство диодов, вертикальных лазеров, испускающих поверхности, микроэлектромеханических систем, хранения данных и промышленных и научных приложений.

NNM.MU Profile, Market Tickers and Other

NNM.MU profile

NNM.MU market tickers