Nova Ltd. engages in the provision of metrology solutions for the semiconductor manufacturing industry. The firm offers in-line Optical and x-ray stand-alone metrology systems, as well as integrated optical metrology systems, which are attached directly to wafer fabrication process equipment. Its metrology systems measure various film thickness and composition properties, as well as critical-dimension (CD) variables during various front-end and back-end of line steps in the semiconductor wafer fabrication process. Its product portfolio includes a set of in-situ, integrated and stand-alone metrology platforms suited for dimensional, films and material metrology measurements for process control across multiple semiconductor manufacturing process steps. Its products include NovaScan 2040, NovaScan 3090Next, Nova i500, Nova T500, Nova T600, Nova V2600 TSV metrology system among others.

Nova Ltd. занимается предоставлением метрологических решений для полупроводниковой промышленности. Фирма предлагает встроенные оптические и рентгеновские автономные системы метрологии, а также интегрированные системы оптической метрологии, которые соединены непосредственно с оборудованием для обработки волн. Его метрологические системы измеряют различные свойства толщины пленки и композиции, а также переменные критического измерения (CD) во время различных передних и задних ступеней линии в процессе изготовления полупроводниковых волн. Его продуктовый портфель включает в себя набор внутренних, интегрированных и самостоятельных метрологических платформ, подходящих для измерения размеров, пленок и метрологии материалов для управления процессами на нескольких этапах производства полупроводников. Его продукты включают NovaScan 2040, NovaScan 3090Next, Nova i500, Nova T500, Nova T600, Nova V2600 TSV.

Frequently Asked Questions